一種超導薄膜壓縮時(shí)臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于超導材料性能測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種超導薄膜壓縮時(shí)臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置。

背景技術(shù)

隨著(zhù)科技的進(jìn)步，人們發(fā)現超導薄膜具有較高的臨界電流密度及超導臨界溫度，并且在濾波器等電子器件中具有很好的應用。超導薄膜在低溫下不可避免的會(huì )受到面內力的作用，影響其臨界電流密度Jc及臨界溫度Tc。因此超導薄膜在加載時(shí)，難以測出其臨界電流密度及臨界溫度。目前，常用的加載方式分為兩種：夾持式加載和非夾持式加載。夾持式加載只能夠夾住薄膜的兩端，由于基底及薄膜為脆性材料，無(wú)法承受夾頭的夾持力。非夾持式加載時(shí)，無(wú)法保證壓頭施加的力與薄膜表面平行，且薄膜易受偏心力而斷裂?；诨准俺瑢П∧け旧砗穸刃∮?/font>1mm，目前常規的加載方式不能夠在不破壞薄膜本身的前提下對其進(jìn)行壓縮加載，更無(wú)法在加載時(shí)測量超導薄膜的臨界電流密度及臨界溫度。

實(shí)用新型內容

針對上述現有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型提供了一種超導薄膜壓縮時(shí)臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置，利用鈹銅梁優(yōu)異的彈性性能，通過(guò)對鈹銅梁加載壓力時(shí)，鈹銅梁發(fā)生純彎曲壓縮超導薄膜，在不破壞超導薄膜結構的情況下測出超導薄膜的臨界電流密度和臨界溫度。

技術(shù)負責人： 張興義 土木工程與力學(xué)學(xué)院