一種反沖質(zhì)子法快中子探測裝置

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于中子探測器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種反沖質(zhì)子法快中子探測裝置。

背景技術(shù)

中子的發(fā)現使原子核物理的研究取得了巨大進(jìn)展，隨著(zhù)對中子物理理論研究的不斷完善，相應的中子應用技術(shù)也發(fā)展起來(lái)，并且已經(jīng)發(fā)現中子在核數據測量、聚變堆材料輻照損傷研究,半導體抗輻射加固、還是在輻照育種、活化分析、治療癌癥方面等都具有廣泛的應用前景。在對中子進(jìn)行基礎研究和應用研究的過(guò)程中，中子產(chǎn)額及其測量就顯得尤為重要，中子產(chǎn)額是十分重要的基礎數據，其測量準確性直接影響著(zhù)其他數據的可靠性。

現有的對中子源(如DD/DT加速器中子源)中中子產(chǎn)額的監測方法主要有對中子進(jìn)行相對測量的裂變電離室和活化法和對中子進(jìn)行絕對測量的伴隨粒子法和反沖質(zhì)子法，其中(1)裂變電離室和活化法屬于相對測量，需要其他探測器對其探測效率進(jìn)行刻度；(2)伴隨粒子法通過(guò)測量DD/DT伴隨質(zhì)子或α粒子確定中子產(chǎn)額，該方法精確度高，方法簡(jiǎn)便，但是探測器要固定在加速器靶系統上，對采用大面積旋轉靶的強流中子發(fā)生器應用受到限制；(3)反沖質(zhì)子法測量的數據準確且完備因而誤差較小，但是體積通常較大，系統結構較為復雜。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于提供一種反沖質(zhì)子法快中子探測裝置，其基于快中子和氫原子的彈性散射產(chǎn)生的反沖質(zhì)子數來(lái)確定快中子產(chǎn)額，旨在確保探測數據的準確性和可靠性的基礎上，實(shí)現高效率的探測且整個(gè)裝置體積小、結構簡(jiǎn)單、布置靈活。

技術(shù)負責人： 姚澤恩 核科學(xué)與技術(shù)學(xué)院